Инвентарный номер: нет.         Don, H,     Использование патентного анализа при определении тенденций исследований и рпзработок [] / H,Don, Bai,Ying // Патентная информация сегодня. - 2007. - N 2. - С. 23 Кл.слова (ненормированные): патентный анализ -- тенденция исследований