Рушайло, Б. Е. Патентные исследования в системе "Патент-аналитик" / Б. Е. Рушайло // Патенты и лицензии. - 2014. - № 10. - С. 48-53. - Библиогр.: с. 53 (8 назв.) Рубрики: ПРАВО. ЮРИДИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЯ ПАТЕНТНЫЕ -- СИСТЕМА "ПАТЕНТ-АНАЛИТИК" -- МЕЖДУНАРОДНАЯ ПАТЕНТНАЯ КЛАССИФИКАЦИЯ -- МПК Аннотация: В статье канд. техн. наук Б. Е. Рушайло (Москва, rubr@mail.ru) описаны состав и функции системы «Патент-аналитик», предназначенной для проведения патентных исследований. Даны примеры использования системы для анализа патентного фонда Российской Федерации с помощью каталогов запросов на основе международного патентного классификатора. |