Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Wen D. Заглавие : Изменения руководства по патентной экспертизе в Китае Место публикации : Патентное дело. - 2007. - № 9. - С. 31 - 34 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): китай--патентная экспертиза--руководство по патентной экспертизе