Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Тихомиров И., Жебель В., Каменская М., Комаров А. Заглавие : Оценка качества патентных исследований Место публикации : Интеллектуальная собственность. Промышленная собственность. - 2017. - № 5. - С. 47-54 Примечания : Библиогр.: с. 54 (11 назв.) Предметные рубрики: ПРАВО. ЮРИДИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): патентные исследования--качество патентных исследований--отчет о патентных исследованиях--критерии оценки качества--инновации Доп.точки доступа: Тихомиров, И.; Жебель, В.; Каменская, М.; Комаров, А.