Web ИРБИС

Вид документа : Журнал
Шифр издания : M27
Заглавие : Microelectronics and Reliability : An International Journal & World Abstracting Service
Параллельн. заглавия :Микроэлектроника
Выходные данные : Oxford; New York, 1969
ISSN: 0026-2714
ГРНТИ : 47
ББК : 648.441я52 + 621.4я52
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ТЕОРИЯ НАДЕЖНОСТИ
Зарегистрированы поступления :
1988г. экз.1; (кх) т.Vol. 28; N :1-6;
1987г. экз.1; (кх) т.Vol. 27; N :1-6;
1986г. экз.1; (кх) т.Vol. 26; N :1-6;
1985г. экз.1; (кх) т.Vol. 25; N :1-6;
1984г. экз.1; (кх) т.Vol. 24; N :1-6;
1983г. экз.1; (кх) т.Vol. 23; N :1-6;
1982г. экз.1; (кх) т.Vol. 22; N :1-6;
1981г. экз.1; (кх) т.Vol. 21; N :1-6;
1980г. экз.1; (кх) т.Vol. 20; N :3-6,1/2;
1979г. экз.1; (кх) т.Vol. 19; N :1/2,3,4,5/6;
1978г. экз.1; (кх) т.Vol. 17; N :1-6;
1977г. экз.1; (кх) т.Vol. 16; N :1-6;
1976г. экз.1; (кх) т.Vol. 15; N :1-6;
1975г. экз.1; (кх) т.Vol. 14; N :1-4,5/6;
1973г. экз.1; (кх) т.Vol. 12; N :1-6;
1972г. экз.1; (кх) т.Vol. 11; N :1-6;
1971г. экз.1; (кх) т.Vol. 10; N :1-6;
1970г. экз.1; (кх) т.Vol. 9; N :1-6;
1969г. экз.1; (кх) т.Vol. 8; N :1-4
Издание можно найти в:
кх;