Вид документа : Статья из сборника (однотомник) Шифр издания : 53/Ч-45 Автор(ы) : Черанев А. В., Уймин А. А. Заглавие : Методические особенности измерения температуропроводности субмикро- и нанокристаллических материалов методом термомодуляционной лазерной эллипсометрии в области низких температур Место публикации : Метастабильные состояния и фазовые переходы : сб. науч. тр. / Ин-т теплофизики УрО РАН. - Екатеринбург, 2003. - Вып. 6. - С. 117-127 Примечания : Библиогр.: с. 126-127 (6 назв.) ББК : 53 Предметные рубрики: ФИЗИКА Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): температуропроводность--субмикрокристаллические материалы--материалы субмикрокристаллические--нанокристаллические материалы--материалы нанокристаллические--метод термомодуляционной лазерной эллипсометрии--низкие температуры--температуры низкие--метод нуль-эллипсометрии--эллипсометрические параметры--параметры эллипсометрические--температурные зависимости--зависимости температурные Доп.точки доступа: Уймин, А. А.