С 84 Стрекаловский, В. Н. Совместное использование микроспектроскопии КРС и сканирующей электронной микроскопии в материаловедении оксидов высокотемпературных электрохимических устройств [Текст] / В. Н. Стрекаловский, Э. Г. Вовкотруб, В. Б. Малков // Физическая химия и электрохимия расплавленных электролитов: тез. докл. XIV Российской конф. 10-14 сентября (с международным участием). - Екатеринбург, 2007. - Т. 2. - С. 121. - Библиогр.: с. 121 (2 назв.) Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ |