С 84 Стрекаловский, В. Н. Диагностика нановеществ методами сканирующей электронной микроскопии и микро-раман-спектроскопии / В. Н. Стрекаловский, В. Б. Малков, Э. Г. Вовкотруб> // III Юбилейная Урало-Сибирская научно-промышленная выставка "Научно-промышленная политика и перспективы развития Урала и Сибири", Екатеринбург, 19-23 июня . - Екатеринбург, 2007. - С. 317. - Библиогр.: с. 318 (4 назв.) Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СПЕКТРОСКОПИЯ -- НАНОВЕЩЕСТВА |