Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/Ш 66 Автор(ы) : Шкерин С. Н., Кузнецов М. В., Калашникова Н. А. Заглавие : Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия поверхности твердого электролита La0.88Sr0.12Ga0.82Mg0.18O3-альфа Место публикации : Электрохимия. - 2003. - Т. 39, N 6. - С. 659-668: граф., табл. - ISSN 0424-8570. - ISSN 0424-8570 Примечания : Библиогр.: с. 668 (20 назв.) ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Аннотация: Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии исследованы состав и химическое состояние элементов на поверхности твердого кислород-проводящего электролита La0.88Sr0.12Ga0.82Mg0.18O3-альфа до и после высокотемпературного отжига (T = 973 К) в атмосфере CO2. Показано, что продукты взаимодействия легированного галлата лантана с диоксидом углерода локализованы в поверхностном слое толщиной 8-10 нм. Отжиг в CO2-атмосфере не приводит к образованию на поверхности электролита химических соединений углерода с металлами. Поверхностные слои как в исходном электролите, так и после выдержки в CO2 обогащены оксидом стронция, на поверхности присутствует гидроксид лантана Доп.точки доступа: Кузнецов, М. В.; Калашникова, Н. А.; Институт высокотемпературной электрохимии УрО РАН