P 80 Poly(vanadiu-molybdenum acid) xerogel thin films fabricated by the sol-gel process and their humidity-sensing properties [] / M. S. Tong, G. R. Dai, Y. D. Wu, X. L. He, W. Yan, D. S. Gao, V. Volkov, G. Zakharova // Journal of Materials Research. - 2000. - V. 15, N 12. - С. 2653-2657. - Библиогр.: 11 назв. Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): V2O5 -- ОКСИД ВАНАДИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- КСЕРОГЕЛИ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ МЕТОД -- СВОЙСТВА ДАТЧИКОВ ВЛАЖНОСТИ -- ТЕРМОГРАВИМЕТРИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- АНАЛИЗ ТЕРМОГРАВИМЕТРИЧЕСКИЙ -- МЕТОД РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ЭЛЕКТРОДЫ -- ГЕЛИ Аннотация: Thermogravimetric analysis, x-ray photoelectron spectroscopy, and x-ray diffraction results and the humidity sensing properties of poly(vanadium-molybdenum acid) H2V9.5Mo2.5O32.0.8.8H(2)O xerogel thin films, which were fabricated by the sol-gel process, are described in this paper. The conductance and the capacitance of the thin films strongly depend on the relative humidity. Different electrodes have different influences on the humidity-sensing properties of the thin films |