Л 84 Лукин, Н. В. Возможность использования рентгенографических методов для исследования тонких пленок и поверхностных слоев поликристаллических образцов [] / Н. В. Лукин, С. И. Алямовский // Поверхность и новые материалы: 1-я Урал. конф. (27-29 нояб. 1984 г.): Тез. науч. сообщ. - 1984. - Т. 1. - С. 197 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- МЕТОД РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ -- РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ СЛОИ -- СЛОИ ПОВЕРХНОСТНЫЕ -- ПОЛИКРИСТАЛЛЫ |