К 63 Комплексное использование растровой электронной и зондовой микроскопии = Joinst use of scanning electron and probe microscopy / И. Г. Григоров, С. В. Борисов, Н. А. Хлебников, Е. В. Поляков, Ю. Г. Зайнулин, Г. П. Швейкин // Аналитика и контроль. - 2007. - Т. 11, № 4. - С. 260-265 : рис. - Библиогр.: с. 265 (10 назв.) Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Аннотация: Описана методика формирования трехмерного изображения в цифровой форме реального физического объекта, путем получения микрорельефа его поверхности методом растровой электронной микроскопии и коррекцией данных трехмерного преобразования методами сканирующей зондовой микроскопии |