Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/P 80 Автор(ы) : Tong M. S., Dai G. R., Wu Y. D., He X. L., Yan W., Gao D. S., Volkov V., Zakharova G. Заглавие : Poly(vanadiu-molybdenum acid) xerogel thin films fabricated by the sol-gel process and their humidity-sensing properties Место публикации : Journal of Materials Research. - 2000. - V. 15, N 12. - С. 2653-2657 Примечания : Библиогр.: 11 назв. ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): v2o5--оксид ванадия--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--ксерогели--золь-гель метод--свойства датчиков влажности--термогравиметрический анализ--анализ термогравиметрический--метод рентгеновской дифракции--тонкие пленки--пленки тонкие--электроды--гели Аннотация: Thermogravimetric analysis, x-ray photoelectron spectroscopy, and x-ray diffraction results and the humidity sensing properties of poly(vanadium-molybdenum acid) H2V9.5Mo2.5O32.0.8.8H(2)O xerogel thin films, which were fabricated by the sol-gel process, are described in this paper. The conductance and the capacitance of the thin films strongly depend on the relative humidity. Different electrodes have different influences on the humidity-sensing properties of the thin films Доп.точки доступа: Tong, M. S.; Dai, G. R.; Wu, Y. D.; He, X. L.; Yan, W.; Gao, D. S.; Volkov, V.; Zakharova, G.