Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/Ш 18 Автор(ы) : Шалаева Е. В., Кузнецов М. В. Заглавие : Рентгеновская фотоэлектронная дифракция. Возможности структурного анализа поверхности : Обзор Параллельн. заглавия :X-Ray photoelectron diffraction. Surface structure analysis ability Место публикации : Журнал структурной химии. - 2003. - Т. 44, N 3. - С. 518-552: табл., граф. - ISSN 0136-7463. - ISSN 0136-7463 Примечания : Библиогр.: с. 548-552 (241 назв.) ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Аннотация: Проведено систематическое изложение современного состояния метода рентгеновской фотоэлектронной дифракции (РФД) и его приложений в химии поверхности твердых тел. Даны основы метода и рассмотрен ряд подходов его описания: в приближении однократного рассеяния плоских и сферических волн, многократного рассеяния сферических волн, прямого рассеяния и рассеяния s-фотоэлектронов. Отмечена роль начального и конечных состояний фотоэлектронной волны, описаны варианты РФД со сканированием по углам и энергии, приведен математический аппарат фотоэлектронной голографии. Рассмотрены особенности использования фотоэлектронной дифракции при изучении поверхностей монокристаллов, эпитаксиальных слоев и адсорбционных систем металл-газ с локализацией адсорбата на поверхности и в приповерхностных слоях. Обсуждается накопленный экспериментальный материал, дается оценка теоретическим расчетам фотоэлектронной дифракции в приближениях однократного и многократного рассеяния ... Доп.точки доступа: Кузнецов, М. В.