Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/Э 45 Автор(ы) : Добромыслов А. В., Долгих Г. В., Талуц Г. Г., Борычев А. Н., Фотиев В. А., Кожевников В. Л., Чешницкий С. М. Заглавие : Электронно-микроскопическое исследование структуры соединения La2-xSrxCuO4 с различным содержанием стронция Место публикации : Проблемы высокотемпературной проводимости: Информ. материалы. - Свердловск, 1987. - Ч. 1. - С. 124-127 ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): химия--la2-xsrxcuo4--la--sr--cu--лантан--стронций--медь--купраты--высокотемпературная проводимость--проводимость высокотемпературная--электронно-микроскопические исследования--исследования электронно-микроскопические Доп.точки доступа: Добромыслов, А. В.; Долгих, Г. В.; Талуц, Г. Г.; Борычев, А. Н.; Фотиев, В. А.; Кожевников, В. Л.; Чешницкий, С. М.