Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/Л 84 Автор(ы) : Лукин Н. В., Алямовский С. И. Заглавие : Возможность использования рентгенографических методов для исследования тонких пленок и поверхностных слоев поликристаллических образцов Место публикации : Поверхность и новые материалы: 1-я Урал. конф. (27-29 нояб. 1984 г.): Тез. науч. сообщ. - Свердловск, 1984. - Т. 1. - С. 197 ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): химия--метод рентгенографический--рентгенографический метод--пленки тонкие--тонкие пленки--поверхностные слои--слои поверхностные--поликристаллы Доп.точки доступа: Алямовский, С. И.