Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/К 93 Автор(ы) : Курлов А. С., Гусев А. И. Заглавие : Определение размера частиц, микронапряжений и степени негомогенности в наноструктурированных веществах методом рентгеновской дифракции Место публикации : Физика и химия стекла. - 2007. - Т. 33, № 3. - С. 383-392: рис., граф. - ISSN 0132-6651. - ISSN 0132-6651 Примечания : Библиогр.: с. 391-392 (15 назв.) ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микронапряжения--негомогенность--карбид вольфрама--нанокристаллы--порошки--wc--метод рентгеновской дифракции Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Гусев, А. И.