Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/Р 69 Автор(ы) : Ромашев Л. Н., Григоров И. Г., Логинов Б. А. Заглавие : Диагностика топографии поверхности пленочных наноструктур методами растровой электронной и сканирующей зондовой микроскопии : доклад, тезисы доклада Место публикации : Третья Всероссийская конференция по наноматериалам "НАНО-2009 ", Екатеринбург, 20-24 апр. 2009 г. : тез. докл. - Екатеринбург, 2009. - С. 870 ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): поверхности пленочных структур--диагностика топографии--метод растровой электронной микроскопии--метод сканирующей зондовой микроскопии Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Григоров, И. Г.; Логинов, Б. А.