Инвентарный номер: нет.    Пат. 2631237 Российская Федерация, МПК H01L 31/00, H01S 4/00.         Способ контроля структурного качества тонких плёнок для светопоглощающих слоёв солнечных элементов и устройство для его реализации / В. Н. Павловский, И. Е. Свитенков, Е. В. Луценко, Г. П. Яблонский, А. В. Мудрый, В. Д. Живулько, О. Н. Бородавченко, М. В. Якушев ; Заявитель и патентообладатель Государственное научное учреждение Институт физики имени Б.И. Степанова Национальной академии наук Беларуси, Государственное научно-производственное объединение Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению, Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт химии твердого тела Уральского Отделения Российской академии наук. - № 2016107046 ; Заявл. 26.02.2016 ; Опубл. 19.09.2017 // Изобретения. Полезные модели. - 2017. - № 26