539.2 N 21 Nanoscale Characterisation of Ferroectric Materials. Scanning Probe Microscopy Approach : научное издание / eds. M. Alexe, A. Gruverman. - [Berlin [et al.]] : Springer, 2004. - IX, 282 p. : ил. - (NanoScience and Technology). - Библиогр. в конце глав. - Указ.: с. 279-282. - ISBN 3-540-20662-0 : 2743.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ И ДИЭЛЕКТРИКОВ ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |