538 S 30 Scanning Probe Microscopy. Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale / eds. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York : Springer, 2007 - . Vol. 1. - 2007. - XX, 558, [4] p. : il. - Библиогр. в конце глав. - Указ.: с. 559-565. - ISBN 978-0387-28667-9 : 7877.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |