538 S 30 Scanning Probe Microscopy. Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale / eds. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York : Springer, 2007 - . Vol. 2. - 2007. - XX, С. 561-980 : il. - Библиогр. в конце глав. - Указ.: с. 974-980. - ISBN 978-0387-28667-9 : 7876.51 р.
Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |