538 С 42 Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштап [и др.]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 343.15 р.
Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |