Ж М 59ГОСТ 8.593-2009 Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - Москва : Стандартинформ, 2010. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |