З81 R 17 Rai, Bharatendra K.. Reliability Analysis and Prediction with Warranty Data: Issues, Strategies, and Methods : монография / B. K. Rai, N. Singh. - Boca Raton [et al.] : CRC Press : Taylor & Francis, 2009. - XXIII, 159 p. : ил. - (Manufacturing & Industrial Engineering). - Библиогр.: с. 149-153. - Указ.: с. 155-159. - ISBN 978-1-4398-0325-7 : 2529.00 р. Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ТЕХНИЧЕСКАЯ КИБЕРНЕТИКА Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |