З84 T 38 Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Inergrated Circuits : сборник / ed. by S. K. Goel, K. Chakrabarty. - Boca Raton ; London ; New York : CRC Press : Taylor & Francis Group, 2014. - XIV, 247 p. : ил. - Библиогр.: с.215-222. - Указ.: с. 223-247. - ISBN 978-1-4398-2941-7 : 5971.00 р.
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |