В34 В 55 Вишнякова, Софья Михайловна. Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом : методические указания к лабораторной работе О-7 по курсу общей физики / С. М. Вишнякова, В. И. Вишняков ; Моск. гос. техн. ун-т им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Баумана, 2014. - 29, [2] с. : рис. - Библиогр.: с. 30. - ISBN 978-5-7038-3832-7 : Б. ц.
Рубрики: ФИЗИКА--ОПТИКА--ПОСОБИЯ МЕТОДИЧЕСКИЕ Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |