Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : З85/B 85 Автор(ы) : Breitenstein, Otwin, Langenkamp, Martin Заглавие : Lock-in Thermography. Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components : монография Выходные данные : Berlin [et al.]: Springer, 2003 Колич.характеристики :VIII, 193 с.: ил., табл., фото Серия: Springer Series in Advanced Microelectronics; vol. 10 .     Physics and Astronomy Online Library Примечания : Библиогр.: с. 173-179. - Указ.: с. 191-193 ISBN, Цена 3-540-43439-9: 2452.00, 2161.00, р. ГРНТИ : 47.01 ББК : З85 Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ЭЛЕКТРОНИКА Экземпляры : всего : кх(2) Свободны : кх(2) Доп.точки доступа: Langenkamp, Martin