Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 648.1/R 17-609453 З81/R 17 Автор(ы) : Rai, Bharatendra K., Singh, Nanua Заглавие : Reliability Analysis and Prediction with Warranty Data: Issues, Strategies, and Methods : монография Выходные данные : Boca Raton [et al.]: CRC Press: Taylor & Francis, 2009 Колич.характеристики :XXIII, 159 с.: ил. Серия: Manufacturing & Industrial Engineering Примечания : Библиогр.: с. 149-153. - Указ.: с. 155-159 ISBN, Цена 978-1-4398-0325-7: 2529.00 р. ГРНТИ : 28.01 ББК : З81 Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ТЕХНИЧЕСКАЯ КИБЕРНЕТИКА Экземпляры :кх(1) Свободны : кх(1) Доп.точки доступа: Singh, Nanua