Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 539.2/В 16 Автор(ы) : Валянский, Сергей Иванович, Наими, Евгений Кадырович Заглавие : Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазменной микроскопии : учебное пособие Выходные данные : Москва: Изд. Дом МИСиС, 2011 Колич.характеристики :172 с Коллективы : Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС"., Каф. физики Серия: Национальный исследовательский технологический университет МИСиС; № 2055 ISBN, Цена 978-5-87623-460-5: 234.08 р. ГРНТИ : 29.19 ББК : 539.24я73 Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ Экземпляры :кх(1) Свободны : кх(1) Доп.точки доступа: Наими, Евгений Кадырович; Капуткин, Д. Е. \ред.\; Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС"., Каф. физики