Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : З84/T 38 Заглавие : Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Inergrated Circuits : сборник Выходные данные : Boca Raton; London; New York: CRC Press: Taylor & Francis Group, 2014 Колич.характеристики :XIV, 247 с.: ил. Примечания : Библиогр.: с.215-222. - Указ.: с. 223-247 ISBN, Цена 978-1-4398-2941-7: 5971.00 р. ГРНТИ : 47.01 ББК : З844.1 Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА Экземпляры :кх(1) Свободны : кх(1) Доп.точки доступа: Goel, Sandeep K. \ed.\; Chakrabarty, Krishnendu \ed.\