|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 539.2/В 12 Автор(ы) : Вавилов, Виктор Сергеевич, Кив, Арик Ефимович, Ниязова, Озод Рахимовна Заглавие : Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках Выходные данные : Москва: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1981 Колич.характеристики :368 с Серия: Физика полупроводников и полупроводниковых приборов Примечания : Библиогр.: с. 332-360 Цена : 15.00 р. ГРНТИ : 29.19.31 ББК : 539.292 Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ И ДИЭЛЕКТРИКОВ Экземпляры :кх(1) Свободны : кх(1) Доп.точки доступа: Кив, Арик Ефимович; Ниязова, Озод Рахимовна |