Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/C 47 Автор(ы) : Jackson B. K., Dye D., Inman D., Bhagat R., Talling R. J., Raghunathan S. L., Jackson M., Dashwood R. J. Заглавие : Characterization of the FFC Cambridge Process for NiTi Production Using In Situ X-Ray Synchrotron Diffraction Место публикации : Journal of Electrochemical Society. - 2010. - Vol. 157, № 4. - С. Е57-Е63. - ISSN 0013-4651. - ISSN 0013-4651 Примечания : Библиогр. : с. E62-E63 (30 ref.) ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Jackson , B. K.; Dye, D.; Inman, D.; Bhagat, R.; Talling, R. J.; Raghunathan, S. L.; Jackson , M.; Dashwood, R. J.