538 Р 24 Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения [] : переводное издание / под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга, Т. П. Каминская ; пер с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, [2013]. - 582 с., [8] вкл. л. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 574-582. - Пер. изд. : Scanning Microscopy for Nanotechnology. - 2006. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1320.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ |