О-13 Об отказоустойчивости наноэлектронных интегральных схем при облучении / П. А. Александров, В. В. Бударагин, В. И. Жук, В. Л. Литвинов // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 1. - С. 7-14. - Библиогр.: с. 14 (12 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- РАДИАЦИОННЫЕ ПОВРЕЖДЕНИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- ОТКАЗОУСТОЙЧИВОСТЬ -- РЕЗЕРВИРОВАНИЕ В ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМАХ Аннотация: Рассматривается вопрос о радиационной устойчивости наноразмерных компонентов цифровых схем. Показано, что межсоединения также подвержены действию радиации, как и активные компоненты. Делается вывод о низком уровне отказоустойчивости схем с наноразмерными компонентами даже при учете только фонового излучения. Предлагается новый метод покомпонентного дублирования, кардинально повышающий отказоустойчивость схем. |