Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/П 73 Автор(ы) : Прохоров В. В., Мальцев Е. И., Перелыгина О. М., Лыпенко Д. А., Позин С. И., Ванников А. В. Заглавие : Прецизионное измерение наноразмерных высот J-агрегатов с помощью атомно-силовой микроскопии Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 5-6. - С. 52-59: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223 Примечания : Библиогр. : с. 59 (17 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Аннотация: Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) получены изображения высокого разрешения и проведены прецизионные измерения высот наноразмерных органических молекулярных кристаллов J-агрегатов монометинцианинового красителя 3,3'-ди(гамма-сульфопропил)-5,5'-дихлортиамонометинцианина (МЦК) и амфифильного красителя 3,3'-бис(2-сульфопропил)-5,5',6,6'-тетрахлор1,1'-диоктилбензимидакарбоцианина (АЦК). Установлено, что J-агрегаты МЦК, полученные как в объеме раствора, так и самосборкой на поверхности слюды, имеют форму однослойных протяженных листов, обладающих высокой механической гибкостью. Измеренное с высокой точностью значение высоты монослоя J-агрегатов МЦК равно 1.05+0.05 нм, что соответствует кристаллографическому размеру отдельной молекулы вдоль малой оси. Предложена модель асимметричной однослойной молекулярной упаковки, в которой сульфопро-пильные группы расположены по одну сторону от плоскости слоя. В случае АЦК наблюдали узкие ленточные многослойные структуры с высотами в диапазоне от 3 до 30 нм, значения которых строго квантуются с шагом 3 нм. Обсуждается бислойная модель упаковки молекул АЦК в J-агрегатах с частично перекрывающимися монослоями, ориентированными гидрофобными сторонами навстречу друг другу. Из сравнения с электронно-микроскопическими данными других работ предлагается модель структурных единиц АЦК в виде «элементарных полосок» с поперечным размером 3х4 нм Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Прохоров, В. В.; Мальцев, Е. И.; Перелыгина, О. М.; Лыпенко, Д. А.; Позин, С. И.; Ванников, А. В.