Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/А 64 Автор(ы) : Турьянский А. Г., Анисимов В. И., Бейлин Н. Д., Герасименко Н.Н., Гижа С. С., Капустянов В. Е., Пиршин И. В., Сенков В. М., Смирнов Д. И. Заглавие : Аналитическая система «CompleXRay» для рентгеновской диагностики наноструктур Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 7-12: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498 Примечания : Библиогр.: с. 12 (4 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктуры --шероховатость поверхности --анализ флюоресцентный --монохроматоры пирографитовые--диагностика рентгеновская --рассеяние малоугловое --рефрактометрия--рефлектометрия Аннотация: Описана измерительная схема и функциональные возможности аналитического комплекса «CompleXRay» на базе рентгеновского рефлектометра Доп.точки доступа: Турьянский, А. Г.; Анисимов, В. И.; Бейлин, Н. Д.; Герасименко, Н.Н.; Гижа, С. С.; Капустянов, В. Е.; Пиршин, И. В.; Сенков, В. М.; Смирнов, Д. И.