Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/Б 89 Автор(ы) : Брюхова Ю. В., Зайцева Н. А. Заглавие : Анализ разброса физико-технических параметров полупроводниковых приборов Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 48-53: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586 Примечания : Библиогр.: с. 53 (14 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): годные кристаллы--моделирование--физические параметры--разброс параметров--полупроводниковые приборы Доп.точки доступа: Зайцева, Н. А.