Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/С 37 Автор(ы) : Симонов В. Н., Красильникова О. К., Матисон Н. Л. Заглавие : Метод контроля параметров наноразмерных пленок на основе мультирезонансных кварцекристаллических микрои нановесов Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 3-4. - С. 64-70: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223 Примечания : Библиогр.: с. 70 (8 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленки наноразмерные--нановесы (qcn) --микровесы кварцекристаллические (qcm)--резонаторы кварцевые--пленки хитозана --температура--резонатор Аннотация: Рассмотрены возможности метода исследования тонких пленок с использованием кварцекристаллических микровесов (QCM) и нановесов (QCN) на основе нескольких резонансов нескольких кварцевых резонаторов. Система из трех кварцевых резонаторов использовалась для измерения различных физико-химических и механических свойств пленок хитозана толщиной от 50 до 200 нм. Измерены изотермы адсорбции паров воды пленками хитозана в диапазонах влажности от 0 до 99 % и диапазоне температур 20–70 °C, механические напряжения в высыхающей пленке, плотность хитозана, модуль Юнга и его поведение в диапазоне температур Доп.точки доступа: Красильникова, О. К.; Матисон, Н. Л.