Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 623/А 59 Автор(ы) : Альфорд, Терри Л., Фельдман, Леонард К., Майер, Джеймс В. Заглавие : Фундаментальные основы анализа нанопленок : переводное издание Выходные данные : М.: Научный мир, 2012 Колич.характеристики :390 с Коллективы : МГУ им. М. В. Ломоносова, Научно-образовательный центр по нанотехнологиям Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники Перевод издания: Alford T. L. Fundamentals of Nanoscale film analysis/ T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer. -Teh USA, 2007 Примечания : Библиогр. в конце глав. ISBN, Цена 978-5-91522-225-9: 523.06 р. ГРНТИ : 81.09 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ -- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ Экземпляры :кх(1) Свободны : кх(1) Доп.точки доступа: Фельдман, Леонард К.; Майер, Джеймс В.; Образцов, А. Н. \ред.\; Долганов, М. А. \пер.\; Alford, T. L.; Feldman, L. C.; Mayer, J. W.; МГУ им. М. В. Ломоносова, Научно-образовательный центр по нанотехнологиям