Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 539.23-022.53/О-13 Автор(ы) : Александров П. А., Бударагин В. В., Жук В. И., Литвинов В. Л. Заглавие : Об отказоустойчивости наноэлектронных интегральных схем при облучении Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 1. - С. 7-14. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586 Примечания : Библиогр.: с. 14 (12 назв.) УДК : 539.23-022.53 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноэлектроника--радиационные повреждения--электронные материалы--отказоустойчивость--резервирование в электронных системах Аннотация: Рассматривается вопрос о радиационной устойчивости наноразмерных компонентов цифровых схем. Показано, что межсоединения также подвержены действию радиации, как и активные компоненты. Делается вывод о низком уровне отказоустойчивости схем с наноразмерными компонентами даже при учете только фонового излучения. Предлагается новый метод покомпонентного дублирования, кардинально повышающий отказоустойчивость схем. Доп.точки доступа: Александров, П. А.; Бударагин, В. В.; Жук, В. И.; Литвинов, В. Л.