Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/П 76 Автор(ы) : Темирязева М. П., Темирязев А. Г., Кунькова З. Э., Ковалев В. И., Вихрова О. В., Данилов Ю. А., Звонков Б. Н. Заглавие : Применение сканирующей силовой микроскопии для исследования тонких композитных слоев GaAs-MnAs Место публикации : Нанотехника. - 2008. - № 1. - С. 96-100: рис., табл. Примечания : Библиогр.: с. 100 (6 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): магнитные полупроводники--арсенид галлия Доп.точки доступа: Темирязева, М. П.; Темирязев, А. Г.; Кунькова, З. Э.; Ковалев, В. И.; Вихрова, О. В.; Данилов, Ю. А.; Звонков, Б. Н.