Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ж1/Л 66 Автор(ы) : Лич, Ричард К. Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : учебное пособие Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2012 Колич.характеристики :399 с.: ил. Перевод издания: Leach, R. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. -New York, 2010 Примечания : Библиогр. в конце глав. ISBN, Цена 978-5-91559-119-5: 1633.00 р. ГРНТИ : 90 ББК : Ж10я73 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ Экземпляры :пф(1) Свободны : пф(1) Доп.точки доступа: Заболоцкий, А. В. \пер.\; Leach, R.