Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/К 13 Автор(ы) : Кадушников Р., Сомина С. Заглавие : Информационно-аналитический инструментарий для национальной наноиндустрии Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 32-35: рис., табл. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578 Примечания : Библиогр.: с. 35 (6 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанометрология--нанообъекты Аннотация: Бурный рост исследований в России в сфере нанотехнологий и планируемый широкомасштабный переход от лабораторного уровня к промышленному производству изделий требует решения проблемы метрологического обеспечения и качественного контроля параметров выпускаемой продукции. Откликом на эту потребность явилась разработка концепции многомасштабного анализа и моделирования наноматериалов и устройств, реализацией которой стал аналитический комплекс SIAMS-CP Nanotech, созданный компанией SIAMS совместно с Центром фотохимии РАН Доп.точки доступа: Сомина, С.