Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 623.7/О-51 Автор(ы) : Окрепилов В. В. Заглавие : Качество в нанотехнологиях : роль метрологии и стандартизации Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 7. - С. 2-6: рис., табл. Примечания : Библиогр. : с. 6 (2 назв.) ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метрология--стандартизация Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН