Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/В 18 Автор(ы) : Вареник Ю. А., Печерская Р. М. Заглавие : Формирование тестового воздействия дая измерения вольт-фарадных характеристик Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 6 . - С. 17-19: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586 Примечания : Библиогр. : с.19 (3 наим.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): характеристики вольт-фарадные--структуры-мдп--структуры полупроводниковые Аннотация: Рассмотрены вопросы формирования тестового воздействия на микро- и нанополупроводниковые структуры при измерении вольт-фарадных характеристик (ВФХ). Предложена необычная схема формирователя тест-сигнала на основе принципа мостового включения генераторов и нагрузки. Описан разработанный измерительный модуль на основе предложенной схемы Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Печерская, Р. М.