Рушайло, Б. Е. Патентный поиск в базе данных ВОИС / Б. Е. Рушайло> // Патенты и лицензии. - 2014. - № 5. - С. 49-51. - Библиогр.: с. 51 (1 назв.) Рубрики: ПРАВО. ЮРИДИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПОИСК ПАТЕНТНЫЙ -- ВСЕМИРНАЯ ОРГАНИЗАЦИЯ ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ -- ВОИС Аннотация: Проведение патентного поиска обычно включает два этапа. На первом этапе ведется поиск по российским, на втором – по зарубежным патентным фондам. Это создает неудобства как при самом поиске (приходится использовать разные программные продукты), так и при анализе и составлении отчетов после его проведения (всю последующую обработку приходится выполнять вручную). Предлагаемый канд. техн. наук Б. Е. Рушайло (Москва, rubr@mail.ru) подход, основанный на использовании баз данных ВОИС, позволяет вести одновременный поиск по зарубежным и российским патентам с последующей обработкой в системе «Патент-аналитик», что существенно снижает трудоемкость патентных исследований. |
Рушайло, Б. Е. Патентные исследования в системе "Патент-аналитик" / Б. Е. Рушайло> // Патенты и лицензии. - 2014. - № 10. - С. 48-53. - Библиогр.: с. 53 (8 назв.) Рубрики: ПРАВО. ЮРИДИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЯ ПАТЕНТНЫЕ -- СИСТЕМА "ПАТЕНТ-АНАЛИТИК" -- МЕЖДУНАРОДНАЯ ПАТЕНТНАЯ КЛАССИФИКАЦИЯ -- МПК Аннотация: В статье канд. техн. наук Б. Е. Рушайло (Москва, rubr@mail.ru) описаны состав и функции системы «Патент-аналитик», предназначенной для проведения патентных исследований. Даны примеры использования системы для анализа патентного фонда Российской Федерации с помощью каталогов запросов на основе международного патентного классификатора. |