Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (75)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (2)Публикации об УрО РАН (4)Нанотехнологии (38)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
Шифр: M 65/ar (Журнал)
Microelectronics and Reliability [Текст] = Микроэлектроника : An International Journal & World Abstracting Service. - Oxford ; New York : [s. n.], 1969 - . - Выходит раз в два месяца. - ISSN 0026-2714

Рубрики:
РАДИОЭЛЕКТРОНИКА -- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ -- ТЕОРИЯ НАДЕЖНОСТИ

Зарегистрированы поступления:
     1988  1987  1986  1985  1984  1983  1982  1981  1980  1979  1978  1977  1976  1975  1973  1972  1971  1970  1969 
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика