Ч-34 Чеботин, В. Н. Электронная проводимость ионных кристаллов в равновесии с газовой фазой: 2. Твердый раствор с антифренкелевскими дефектами [] / В. Н. Чеботин, А. Д. Неуймин, С. Ф. Пальгуев // Тр. / Ин-т электрохимии УФАН СССР. - 1962. - Вып. 3 : Электрохимия расплавленных солевых и твердых электролитов. - С. 125-132. - Библиогр.: 4 назв. Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРОВОДИМОСТЬ ЭЛЕКТРОННАЯ -- КРИСТАЛЛЫ ИОННЫЕ -- ПРОВОДИМОСТЬ ИОННЫХ КРИСТАЛЛОВ -- ФАЗА ГАЗОВАЯ -- РАСТВОР ТВЕРДЫЙ -- ДЕФЕКТ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ -- ДЕФЕКТ АНТИФРЕНКЕЛЕВСКИЙ |
Ч-34 Чеботин, В. Н. Электронная проводимость ионных кристаллов в равновесии с газовой фазой: 1. Чистый кристалл по Френкелю и Шоттки [] / В. Н. Чеботин // Тр. / Ин-т электрохимии УФАН СССР. - 1962. - Вып. 3 : Электрохимия расплавленных солевых и твердых электролитов. - С. 111-124. - Библиогр.: 30 назв. Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРОВОДИМОСТЬ ЭЛЕКТРОННАЯ -- КРИСТАЛЛЫ ИОННЫЕ -- ФАЗА ГАЗОВАЯ -- КРИСТАЛЛЫ ЧИСТЫЕ -- ДЕФЕКТ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ -- МОДЕЛЬ ФРЕНКЕЛЯ-ШОТТКИ -- ФОРМУЛА ВАГНЕРА-ШОТТКИ |
С 50 Смирнов, М. В. Исследование некоторых свойств кристаллов NaCl вблизи точки плавления [] / М. В. Смирнов, М. М. Василевская, Г. В. Буров // Тр. / Ин-т электрохимии УФАН СССР. - 1970. - Вып. 14 : Электрохимия расплавленных солевых и твердых электролитов. - С. 82-87. - Библиогр.: 12 назв. Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ -- Na -- NaCl -- ХЛОРИД НАТРИЯ -- НАТРИЙ -- СТРУКТУРА КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ -- ДЕФЕКТООБРАЗОВАНИЕ -- ДЕФЕКТ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ -- ДЕФЕКТ ФРЕНКЕЛЕВСКИЙ -- ИССЛЕДОВАНИЕ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОЕ Аннотация: Излагаются результаты исследования изменений структуры объема и параметра решетки кристаллов NaCl резко увеличивается перед точкой плавления и достигает 14 % по объему. Совпадение рентгенографических и пикнометрических данных по относительному термическому расширению позволяет заключить, что при высоких температурах в кристаллах NaCl возможно образование дефектов по Френкелю. Структура NaCl сохраняется вплоть до плавления. На рентгенограммах, снятых при температурах выше 780 С, появляются добавочные линии, что также можно объяснить преимущественным образованием дефектов по Френкелю |
С 50 Смирнов, М. В. Исследование свойств кристаллов KCl вблизи точки плавления [] / М. В. Смирнов, М. М. Василевская, Г. В. Буров // Тр. / Ин-т электрохимии УФАН СССР. - 1970. - Вып. 14 : Электрохимия расплавленных солевых и твердых электролитов. - С. 88-90. - Библиогр.: 5 назв. Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): KCl -- ХЛОРИД КАЛИЯ -- КАЛИЙ -- K -- СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ -- МЕТОД ДИЛАТОМЕТРИЧЕСКИЙ -- ДЕФЕКТ ФРЕНКЕЛЕВСКИЙ -- ДЕФЕКТ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ Аннотация: Излагаются результаты рентгенографических, дилатометрических и пикнометрических исследований кристаллов KCl в широком интервале температур вплоть до точки плавления. Установлено, что при 480-500 С параметр кристаллической решетки скачкообразно увеличивается, затем линейно меняется с температурой до 730 С, выше которой быстро возрастает до 6,56 А. Ниже 500 С относительное линейное расширение кристаллов KCl, полученное дилатометрическим методом, превышает значения, найденные рентгеновским методом. При более высоких температурах наблюдается совпадение величин, полученных тремя методами, что позволяет предположить образование дефектов по Френкелю. Структура KCl сохраняется вплоть до плавления. На рентгенограммах, снятых за 5-10 градусов до точки плавления, появляется система добавочных линий |
П 37 Плаксин, С. В. Структура эпитаксиальных осадков вольфрама, полученных электролизом вольфраматного расплава [] / С. В. Плаксин, А. Н. Барабошкин // Электродные процессы в галогенидных и оксидных электролитах: (Высокотемпературная электрохимия): Сб. ст. / УНЦ АН СССР. - 1981. - С. 22-27. - Библиогр.: 5 назв. Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СТРУКТУРА ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ ОСАДКОВ -- ОСАДКИ ЭПИТАКСИАЛЬНЫЕ -- ВОЛЬФРАМ -- W -- ОСАДКИ -- РАСПЛАВ ВОЛЬФРАМАТНЫЙ -- ЭЛЕКТРОЛИЗ РАСПЛАВОВ -- Na -- Na2WO4 -- WO3 -- 0.8Na2WO4-0.2WO3 -- Na2WO4-WO3 -- ВОЛЬФРАМАТ НАТРИЯ -- НАТРИЙ -- ДЕФЕКТ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ -- ПОДЛОЖКА МОЛИБДЕНОВАЯ -- МОЛИБДЕН -- Mo Аннотация: Электролизом расплава 0.8Na2WO4-0.2WO3 при температурах 850-950 С на монокристаллических подложках из молибдена с ориентациями (100), (110), (111), (112) при катодных плоскостях тока 10-100 мА/см2 получены эпитаксиальные монокристаллические слои вольфрама толщиной до 500 мкм. Морфология поверхности осадков изменяется с условиями электролиза. Наблюдаются два основных типа дефектов роста: ямки, форма которых отражает симметрию грани, и пирамиды, форма которых не отвечает симметрии грани, хотя их взаимное расположение и отвечает этой симметрии |
Ч-34 Чеботин, В. Н. Химические потенциалы компонентов смешанного ионного кристалла [] / В. Н. Чеботин, Л. М. Соловьева // Тр. / Ин-т электрохимии УФАН СССР. - 1969. - Вып. 13 : Электрохимия расплавленных солевых и твердых электролитов. - С. 80-89. - Библиогр.: 6 назв. Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПОТЕНЦИАЛЫ ХИМИЧЕСКИЕ -- КРИСТАЛЛЫ ИОННЫЕ -- КРИСТАЛЛЫ СМЕШАННЫЕ -- КРИСТАЛЛЫ НЕСТЕХИОМЕТРИЧЕСКИЕ -- ДЕФЕКТ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ |