S 78 Spitsyn, P. A. Usage of interaction of YBa2Cu3O7-delta with H2O2 solution for preparation of samples of high-temperature superconducting materials for the X-ray fluorescent analysis [] / P. A. Spitsyn, B. V. Slobodin, N. P. Spitsyna> // Int. Congr. Anal. Chem. (Moscow, June 15-21, 1997): Abstr. - 1997. - V. 2. - С. L77 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): АНАЛИЗ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ -- РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ -- АНАЛИЗ РЕНТГЕНОВСКИЙ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- СВЕРХПРОВОДНИКИ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЕ -- Y -- Cu -- Ba -- ИТТРИЙ -- МЕДЬ -- БАРИЙ Аннотация: Описана методика рентгенофлуоресцентного анализа химического состава высокотемпературного сверхпроводящего материала YBa2Cu3O7-дельта. Пробу обрабатывают 5 мин. 0,2-0,3-кратным количеством 30%-ного раствора H2O2. Полученный порошок прессуют в таблетку и определяют в ней содержание Y, Cu и Ba на рентгенофлуоресцентном спектрометре |
И 88 Исследование структуры и транспортных свойств твердых электролитов Li3xLa2/3-xTiO3 и Li2ZrO3 [] / А. А. Сурин, М. И. Пантюхина, В. П. Обросов, И. Ф. Бергер, В. Т. Суриков, А. П. Степанов, В. И. Воронин> // 18-е совещание по использованию рассеяния нейтронов в исследованиях конденсированного состояния (Заречный, 12-16 окт. 2004 г.): прогр. и тез. - 2004. - С. 132 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СТРУКТУРА -- ИОННАЯ ПРОВОДИМОСТЬ -- ПРОВОДИМОСТЬ ИОННАЯ -- ТРАНСПОРТНЫЕ СВОЙСТВА -- СВОЙСТВА ТРАНСПОРТНЫЕ -- ТВЕРДЫЕ ЭЛЕКТРОЛИТЫ -- ЭЛЕКТРОЛИТЫ ТВЕРДЫЕ -- ТВЕРДОФАЗНЫЙ МЕТОД -- МЕТОД ТВЕРДОФАЗНЫЙ -- СИНТЕЗ -- АНАЛИЗ РЕНТГЕНОВСКИЙ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- МЕТОД НЕЙТРОНОГРАФИЧЕСКОГО АНАЛИЗА |
G 61 Golovkin, B. G. Variation of the X-Ray Quantitative Phase Analysis Method / B. G. Golovkin> // Inorganic Materials. - 2009. - Vol. 45, № 14. - P. 1617-1618 : il. - Bibliogr. : p. 1618 (3 ref.) Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ФАЗОВОЕ РАВНОВЕСИЕ -- АНАЛИЗ РЕНТГЕНОВСКИЙ Аннотация: A method to determine the composition of the phase coequilibrium with one of the components in the system under study is proposed. It is based on the use of diffraction pattern data for test samples whose representative points are located at different sides of the point of the phase in question Полный текст |